ВОИС проводит бесплатный семинар «Система РСТ: типичные ошибки, допускаемые заявителями»
9 декабря 11.00 по Московскому времени состоится бесплатный вебинар ВОИС: Система PCT: Типичные ошибки, допускаемые заявителями. Семинар пройдет на русском языке.
В ходе данного совместного вебинара ВОИС и Роспатента будет рассказано о типичных ошибках, которые заявители допускают при подготовке заявки и ее подаче, в частности в Получающее ведомство Роспатента. Кроме того, будут разобраны ошибки, допускаемых заявителями на международной фазе и при переходе на национальную фазу в Российскую Федерацию. При этом вебинар не затронет ошибки, совершаемые заявителями при переходе в другие Ведомства.
Вебинар рассчитан на русскоязычных заявителей, патентных поверенных, сотрудников отделов ИС и изобретателей.
Мероприятие проводится на русском языке г-жой Ольгой Крысановой, руководителем программ, секция ведомственных услуг, отдел международного сотрудничества (РСТ), Сектор патентов и технологий в сотрудничестве с Представительством ВОИС в Российской Федерации, при участии г-жи Елены Киреевой, главного государственного эксперта по ИС отдела международной патентной кооперации и г-жи Маргариты Агарковой, заместителя заведующего отдела международной патентной кооперации.
Ссылка на регистрацию: https://attendee.gotowebinar.com/register/3751929916823284750?source=E
По завершении презентации, участники вебинара в режиме онлайн смогут направить свои комментарии и задать интересующие вопросы.
Обращаем внимание на то, что в рамках данного вебинара будет предоставлена возможность получить сертификат об участии в вебинаре.
В случае, если Вы желаете в последствии получить сертификат, пожалуйста, пропишите свое имя и фамилию на латинице при регистрации.